對天線(xiàn)與某個(gè)應用進(jìn)行匹配需要進(jìn)行精確的天線(xiàn)測量。天線(xiàn)工程師需要判斷天線(xiàn)將如何工作，以便確定天線(xiàn)是否適合特定的應用。這意味著(zhù)要采用天線(xiàn)方向圖測量(APM)和硬件環(huán)內仿真(HiL)測量技術(shù)，在過(guò)去5年中，國防部門(mén)對這些技術(shù)的興趣已經(jīng)越來(lái)越濃厚。雖然有許多不同的方法來(lái)開(kāi)展這些測量，但沒(méi)有一種能適應各種場(chǎng)合的理想方法。例如，500MHz以下的低頻天線(xiàn)通常是使用錐形微波暗室(anechoic chamber)，這是20世紀60年代就出現的技術(shù)。遺憾的是，大多數現代天線(xiàn)測試工程師不熟悉這種非常經(jīng)濟的技術(shù)，也不完全理解該技術(shù)的局限性(特別是在高于1GHz的時(shí)候)。因此，他們無(wú)法發(fā)揮這種技術(shù)的最大效用。

隨著(zhù)對頻率低至100MHz的天線(xiàn)測量的興趣與日俱增，天線(xiàn)測試工程師理解各種天線(xiàn)測試方法(如錐形微波暗室)的優(yōu)勢和局限的重要性就愈加突出。在測試天線(xiàn)時(shí)，天線(xiàn)測試工程師通常需測量許多參數，如輻射方向圖、增益、阻抗或極化特性。用于測試天線(xiàn)方向圖的技術(shù)之一是遠場(chǎng)測試，使用這種技術(shù)時(shí)待測天線(xiàn)(AUT)安裝在發(fā)射天線(xiàn)的遠場(chǎng)范圍內。其它技術(shù)包括近場(chǎng)和反射面測試。選用哪種天線(xiàn)測試場(chǎng)取決于待測的天線(xiàn)。

為更好地理解選擇過(guò)程，可以考慮這種情況：典型的天線(xiàn)測量系統可以被分成兩個(gè)獨立的部分，即發(fā)射站和接收站。發(fā)射站由微波發(fā)射源、可選放大器、發(fā)射天線(xiàn)和連接接收站的通信鏈路組成。接收站由AUT、參考天線(xiàn)、接收機、本振(LO)信號源、射頻下變頻器、定位器、系統軟件和計算機組成。

在傳統的遠場(chǎng)天線(xiàn)測試場(chǎng)中，發(fā)射和接收天線(xiàn)分別位于對方的遠場(chǎng)處，兩者通常隔得足夠遠以模擬想要的工作環(huán)境。AUT被距離足夠遠的源天線(xiàn)所照射，以便在A(yíng)UT的電氣孔徑上產(chǎn)生接近平面的波陣面。遠場(chǎng)測量可以在室內或室外測試場(chǎng)進(jìn)行。室內測量通常是在微波暗室中進(jìn)行。這種暗室有矩形的，也有錐形的，專(zhuān)門(mén)設計用來(lái)減少來(lái)自墻體、地板和天花板的反射(圖1)。在矩形微波暗室中，采用一種墻面吸波材料來(lái)減少反射。在錐形微波暗室中，錐體形狀被用來(lái)產(chǎn)生照射。

圖1：這些是典型的室內直射式測量系統，圖中分別為錐形(左)和矩形(右)測試場(chǎng)。

近場(chǎng)和反射測量也可以在室內測試場(chǎng)進(jìn)行，而且通常是近場(chǎng)或緊縮測試場(chǎng)。在緊縮測試場(chǎng)中，反射面會(huì )產(chǎn)生一個(gè)平面波，用于模擬遠場(chǎng)行為。這使得可以在長(cháng)度比遠場(chǎng)距離短的測試場(chǎng)中對天線(xiàn)進(jìn)行測量。在近場(chǎng)測試場(chǎng)中，AUT被放置在近場(chǎng)，接近天線(xiàn)的表面上的場(chǎng)被測量。隨后測量數據經(jīng)過(guò)數學(xué)轉換，即可獲得遠場(chǎng)行為(圖2)。圖3顯示了在緊縮測試場(chǎng)中由靜區上的反射面產(chǎn)生的平面波。

圖2：在緊縮測試場(chǎng)，平坦波形是由反射測量產(chǎn)生。

一般來(lái)說(shuō)，10個(gè)波長(cháng)以下的天線(xiàn)(中小型天線(xiàn))最容易在遠場(chǎng)測試場(chǎng)中測量，這是因為在可管理距離內往往可以輕松滿(mǎn)足遠場(chǎng)條件。對大型天線(xiàn)(electrically large antenna)、反射面和陣列(超過(guò)10個(gè)波長(cháng))來(lái)說(shuō)，遠場(chǎng)通常在許多波長(cháng)以外。因此，近場(chǎng)或緊縮測試場(chǎng)可以提供更加可行的測量選項，而不管反射面和測量系統的成本是否上升。

假設天線(xiàn)測試工程師想要在低頻下進(jìn)行測量。國防部門(mén)對此尤感其興趣，因為他們需要研究諸如在低頻下使用天線(xiàn)等事項，以便更好地穿透探地雷達(GPR)系統中的結構(針對工作在400MHz范圍的射頻識別(RFID)標簽)，以及支持更高效的無(wú)線(xiàn)電設備(如軟件定義無(wú)線(xiàn)電(SDR))和數字遙感無(wú)線(xiàn)電設備。在這種情況下，微波暗室可以為室內遠場(chǎng)測量提供足夠好的環(huán)境。

矩形和錐形是兩種常見(jiàn)的微波暗室類(lèi)型，即所謂的直接照射方法。每種暗室都有不同的物理尺寸，因此會(huì )有不同的電磁行為。矩形微波暗室處于一種真正的自動(dòng)空間狀態(tài)，而錐形暗室利用反射形成類(lèi)似自由空間的行為。由于使用了反射的射線(xiàn)，因此最終形成的是準自由而非真正自由的空間。

眾所周知，矩形暗室比較容易制造，在低頻情況下的物理尺寸非常大，而且隨著(zhù)頻率的提高工作性能會(huì )更好。相反，錐形暗室制造起來(lái)較復雜，也更長(cháng)一些，但寬度和高度比矩陣暗室要小。隨著(zhù)頻率的提高(如2GHz以上)，對錐形暗室的操作必須十分小心才能確保達到足夠高的性能。

通過(guò)研究每種暗室中使用的吸波措施可以更清楚地認識矩形和錐形暗室之間的區別。在矩形暗室中，關(guān)鍵是要減小被稱(chēng)為靜區(QZ)的暗室區域中的反射能量。靜區電平是進(jìn)入靜區的反射射線(xiàn)與從源天線(xiàn)到靜區的直接射線(xiàn)之差，單位是dB。對于給定的靜區電平，這意味著(zhù)后墻要求的正常反射率需等于或大于要達到的靜區電平。

由于矩形暗室中的反射是一種斜入射，這會(huì )使吸波材料的效率打折扣，因此側墻非常關(guān)鍵。但是，由于存在源天線(xiàn)的增益，只有較少的能量照射到側墻(地板和天花板)，因此增益差加上斜入射反射率必須大于或等于靜區反射率水平。

通常只有源和靜區之間存在鏡面反射的側墻區域需要昂貴的側墻吸波材料。在其它的例子中(例如在位于源后面的發(fā)射端墻處)，可以使用更短的吸波材料。在靜區周?chē)�一般使用楔形吸波材料，這樣有助于減少任何后向散射，并防止對測量造成負面影響。

錐形暗室中采用什么吸波措施呢？開(kāi)發(fā)這種暗室的最初目的是為了規避矩形暗室在頻率低于500MHz時(shí)的局限性。在這些低頻頻段，矩形暗室不得不使用低效率天線(xiàn)，而且必須增加側墻吸波材料的厚度來(lái)減少反射并提高性能。同樣，必須增加暗室尺寸以適應更大的吸波材料。采用較小的天線(xiàn)不是解決之道，因為更低的增益意味著(zhù)側墻吸波材料仍必須增大尺寸。

錐形暗室沒(méi)有消除鏡面反射。錐體形狀使鏡面區域更接近饋源(源天線(xiàn)的孔徑)，因此鏡面反射成為照射的一部分。鏡面區域可以用來(lái)通過(guò)形成一組并行射線(xiàn)入射進(jìn)靜區，從而產(chǎn)生照射。如圖3所示，最終的靜區幅度和相位錐度接近自由空間中的期望值。

圖3：在緊縮測試場(chǎng)中由靜區上的反射面產(chǎn)生的平面波。

使用陣列理論可以更清楚地解釋錐形暗室的照射機制�？紤]饋源由真實(shí)的源天線(xiàn)和一組映像組成。如果映像遠離源(在電氣上)，那么陣列因子是不規則的(例如有許多紋波)。如果映像比較靠近源，那么陣列因子是一個(gè)等方性圖案。對位于(遠場(chǎng)中的)AUT處的觀(guān)察者來(lái)說(shuō)，他看到的源是源天線(xiàn)加上陣列因子后的圖案。換句話(huà)說(shuō)，陣列將看起來(lái)像是自由空間中的獨立天線(xiàn)。

在錐形暗室中，源天線(xiàn)非常關(guān)鍵，特別是在較高頻率時(shí)(如2GHz以上)，此時(shí)暗室行為對細小的變化更加敏感(圖4)。整個(gè)錐體的角度和處理也很重要。角度必須保持恒定，因為錐體部分角度的任何變化將引起照射誤差。因此測量時(shí)保持連續的角度是實(shí)現良好錐形性能的關(guān)鍵。

圖4：在典型的錐形暗室中，吸波材料的布局看起來(lái)很簡(jiǎn)單，但離源天線(xiàn)較近的區域(錐形暗區域)非常重要。

與矩形暗室一樣，錐形暗室中的接收端墻體吸波材料的反射率必須大于或等于所要求的靜區電平。側墻吸波材料沒(méi)有那么重要，因為從暗室立方體部分的側墻處反射的任何射線(xiàn)會(huì )被后墻進(jìn)一步吸收(后墻處有性能最好的吸波材料)。作為一般的“經(jīng)驗之談”，立方體上的吸波材料的反射率是后墻吸波材料的一半。為減少潛在的散射，吸波材料可以呈45度角或菱形放置，當然也可以使用楔形材料。

表中提供了典型錐形微波暗室的特性，可以用來(lái)與典型的矩形暗室作比較。較少量的錐形吸波材料意味著(zhù)更小的暗室，因此成本更低。這兩種暗室提供基本相同的性能。不過(guò)需要注意的是，矩形暗室要想達到與錐形暗室相同的性能，必須做得更大，采用更長(cháng)的吸波材料和數量更多的吸波材料。

圖5：一個(gè)用于天線(xiàn)測試的200MHz至40GHz小型錐形暗室。

雖然從前面的討論中可以清楚地知道，在低頻時(shí)錐形暗室可以比矩形暗室提供更多的優(yōu)勢，但測量數據表明錐形暗室具有真正的可用性。圖5 是一個(gè)200MHz至40GHz的小型錐形暗室，外形尺寸為12×12×36英尺，靜區大小為1.2米。這里采用了一個(gè)雙脊寬帶喇叭天線(xiàn)照射較低頻率的靜區。然后利用安捷倫(Agilent)公司的N9030A PXA頻譜分析儀以一個(gè)對數周期天線(xiàn)測量靜區。在200MHz點(diǎn)測得的反射率大于30Db(如圖6所示)。圖7 和 圖8分別顯示了饋源頂部的源天線(xiàn)和靜區中的掃描天線(xiàn)。

圖6：從圖中可以看出，在200MHz點(diǎn)測得的反射率大于30dB。

圖7：圖中測試采用雙脊喇叭作為源。

有許多像APM和HiL那樣的不同方法可進(jìn)行天線(xiàn)測量。測量技巧在于選擇正確的天線(xiàn)測試場(chǎng)，具體取決于待測的天線(xiàn)。對于中型天線(xiàn)(10個(gè)波長(cháng)大小)，推薦使用遠場(chǎng)測試場(chǎng)。另一方面，錐形暗室可以為低于500MHz的頻率提供更好的解決方案。它們也可以用于2GHz以上的頻率，但操作時(shí)需要備加小心才能確保獲得足夠好的性能。通過(guò)了解錐形微波暗室的正確使用，今天的天線(xiàn)測試工程師可以使用非常有用的工具開(kāi)展100MHz至300MHz以及UHF范圍的天線(xiàn)測量。

圖8：圖中測試采用一個(gè)對數周期天線(xiàn)來(lái)掃描QZ以測量反射率。