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開(kāi)關(guān)電源MOSFET漏源極電壓電磁干擾的仿真分析
文章來(lái)源: 更新時(shí)間:2012/10/23 16:15:00
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1引言

開(kāi)關(guān)電源是目前用途非常廣泛的一種電源設備,然而隨著(zhù)開(kāi)關(guān)頻率以及開(kāi)關(guān)速度的不斷提高,產(chǎn)生的電磁干擾越來(lái)越大,由于市場(chǎng)準入制度的實(shí)施,電磁干擾研究已引起了足夠的重視。干擾源是電磁干擾的三要素之一,是電磁干擾研究的重要部分,文獻[1~2]對干擾源進(jìn)行了說(shuō)明和描述,還有些學(xué)者對抑制干擾源發(fā)射的方法[3~5]和干擾源的輻射[6]進(jìn)行了研究。本文從干擾源入手,對時(shí)域開(kāi)關(guān)電壓信號進(jìn)行電磁干擾特性研究,通過(guò)提取MOSFET時(shí)域電壓信號的特征參數,利用傅立葉變換(FFT)法,分析了開(kāi)關(guān)信號電磁干擾的頻譜情況以及各參數對頻譜的影響,通過(guò)Matlab仿真證明了上述分析的正確性及工程實(shí)用性。由于FFT后頻域信號的幅值差別較大,難以研究,因此本文在FFT后,進(jìn)行了對數變換,這樣既方便研究,又便于與實(shí)際進(jìn)行對比。

2開(kāi)關(guān)電源中的電磁干擾

由于開(kāi)關(guān)電源運用了三極管的開(kāi)關(guān)作用以及PWM技術(shù),使得它與線(xiàn)性電源相比在效率上得到了極大的提高,但是也隨之帶來(lái)了許多問(wèn)題,在三極管的開(kāi)關(guān)過(guò)程中,其di/dt, dv/dt的值很大,這使得開(kāi)關(guān)電源在很寬的頻率范圍內的噪聲都很大,這些噪聲經(jīng)過(guò)電源線(xiàn)傳輸到電網(wǎng)或其它電子設備上,就會(huì )形成電磁干擾。開(kāi)關(guān)管處的電磁干擾是引起開(kāi)關(guān)電源中電磁干擾現象的重要部分,開(kāi)關(guān)管是重要干擾源。

圖1所示是某型號開(kāi)關(guān)電源中MOSFET漏源極的電壓波形,由一個(gè)梯形信號和一個(gè)阻尼振蕩信號疊加而成,梯形信號的上升時(shí)間和下降時(shí)間一般在十納秒到一百納秒之間,電壓和電流的變化率很快,而阻尼振蕩信號則成正弦波的指數衰減形式,它的振蕩周期一般為幾十到幾百納秒。由于梯形信號上升沿下降沿的di/dt, dv/dt很大,將產(chǎn)生很強的干擾電壓和電流,這些電壓和電流通過(guò)某種耦合方式傳輸到輸入和輸出端口就會(huì )形成電磁干擾。在開(kāi)關(guān)電源中,干擾源處的電磁干擾通常具有頻譜范圍廣,干擾強度大的特點(diǎn)。

3 特征參數的確定

圖1中展示了一MOSFET的漏源極電壓波形,為了研究其上升時(shí)間、下降時(shí)間、阻尼振蕩等對其頻譜的影響,需要確定該波形的特征參數,然后運用Matlab編程仿真。由于該波形是由一個(gè)梯形信號和一個(gè)阻尼振蕩信號疊加而成,因此可以用分段函數進(jìn)行模擬。上升沿可以用式(1)表示。

1.jpg

等特征參數,通過(guò)軟件就可以仿真出圖1中的波形。

4 仿真分析

本文采用了Matlab進(jìn)行仿真。圖2是根據函數(1)~(4)及確定的特征參數對圖1仿真得到的開(kāi)關(guān)信號及其頻譜情況,其

2.jpg

從圖中可以看出,該信號的頻率范圍很寬,頻域信號的幅值也很大,當然,這些干擾信號在耦合到電源外部形成電磁干擾時(shí),能量會(huì )有很大的衰減。

仿真時(shí),由于傅立葉變換后各頻率點(diǎn)的幅值變化太大,研究工作非常困難,因此本文對傅立葉變換后的幅值進(jìn)行了取對數處理,另外對1dBuV的值也進(jìn)行了歸零。

3.jpg

4.jpg

 

開(kāi)關(guān)信號的上升和下降沿對干擾的幅值影響很大,圖3是上升時(shí)間或下降時(shí)間為10ns時(shí)的上升沿或下降沿的頻譜,把上升時(shí)間或下降時(shí)間改為100ns再仿真時(shí)發(fā)現:當上升時(shí)間或下降時(shí)間增加時(shí),隨著(zhù)頻率的升高,幅值減小的越快,也就是說(shuō),上升或下降時(shí)間的變化對高頻干擾幅值影響更大。表1中列出了上升時(shí)間或下降時(shí)間為10ns和100ns時(shí),不同頻率的電磁干擾幅值和比較結果。從圖中還可以看出在頻率為

5.jpg

及其諧波頻率附近,電磁干擾的幅值有一個(gè)很大的下降。

為了研究阻尼振蕩對電磁干擾的影響,本文同樣單獨對其進(jìn)行了研究,圖4為其頻譜,

6.jpg

當把振蕩周期從10個(gè)變?yōu)?個(gè)時(shí),對比發(fā)現:振蕩時(shí)間的長(cháng)短對振蕩頻率附近的幅值影響最大,對其它頻率的幅值影響很小。表2列出了振蕩周期分別為10個(gè)和5個(gè)時(shí)不同頻率的幅值。

由以上分析可以看出,適當的增加開(kāi)關(guān)信號的上升和下降時(shí)間,可以降低電磁干擾的發(fā)射,對高頻更為明顯,盡量減小阻尼振蕩的時(shí)間,對振蕩頻率附近的電磁干擾發(fā)射,具有明顯的效果。

7.jpg

5 結論

本文研究了開(kāi)關(guān)電源中MOSFET漏源極電壓信號電磁干擾的頻譜特性,發(fā)現該信號上升和下降時(shí)間的變化對高頻干擾的幅值影響更大,且在頻率為上升和下降時(shí)間的倒數及其諧波附近,干擾幅值有一個(gè)突降。通過(guò)研究該信號中阻尼振蕩時(shí)間、周期等參數對電磁干擾的影響,得知振蕩時(shí)間的長(cháng)短對振蕩頻率附近的幅值影響最大,對其它頻率的幅值影響很小。

 
 
 
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