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電容器壓電效應失效的解決方案
文章來(lái)源: 更新時(shí)間:2014/8/4 10:05:00
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高耐壓、高容值的電容器一般通過(guò)電解電容或者薄膜電容來(lái)實(shí)現,其體積一般較大。盡管經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展,高耐壓、高容量的電容器的小型化進(jìn)展還是十分有限。
當前取得的進(jìn)展主要在高耐壓方面,但是很難同時(shí)兼顧高容量;或者是達到高容量但是電壓一般小于50V.電源行業(yè),一些應用需要高耐壓、高容量的電容器,例如在開(kāi)關(guān)電源中作輸入輸出濾波,儲能,尖峰吸收,DC-DC轉換,直流阻隔,電壓倍乘等等,此外,在一些應用中,尺寸和重量非常重要,需要小體積的電子元器件。
為了同時(shí)獲取高耐壓和高容量,業(yè)界常見(jiàn)的做法是依據DSCC 87106/88011和MIL-PRF-49470的規范將多個(gè)陶瓷電容器疊加在一起,這種做法占據空間較大且較重,并且價(jià)格昂貴。因此,業(yè)內一直存在著(zhù)對更輕、更小的高耐壓、高容量的電容器的需求。

過(guò)往技術(shù)局限
失效模式?jīng)Q定了設計上的局限,而多種失效模式的存在也限制了中、高耐壓電容器的容值提升。有些失效模式是外在的,如機械應力或熱應力導致的斷裂,但同時(shí)我們也需要深入探討內在失效模式,這在制造商的管控范圍之內。
多層陶瓷電容器在設計上的限制因素,隨時(shí)代的不同而發(fā)生著(zhù)變化。早期多層陶瓷電容器面臨的主要限制因素,是電介質(zhì)材料本身的點(diǎn)缺陷和雜質(zhì),這些因素影響了材料的質(zhì)量和純度,如圖1,從而限制了電容器內部層數的上限和每層厚度的最小值。

圖1 污染瑕疵
隨著(zhù)電介質(zhì)材料本身質(zhì)量的提高和操作流程的改進(jìn),限制因素轉變?yōu)殡娊橘|(zhì)材料本身的強度,而該因素一旦得到了解決,我們本可以預期制造出更大更厚的電容器,而不必擔心產(chǎn)生介質(zhì)擊穿或點(diǎn)失效,如圖2.

圖2 介質(zhì)擊穿
可是一種新的失效模式出現了,我們稱(chēng)之為壓電應力斷裂,通常指壓電效應或者電致伸縮現象,如圖3所示。這種失效模式迄今為止仍是多層陶瓷電容制造所面臨的限制因素。它影響大多數的鈦酸鋇二類(lèi)(Class II介質(zhì),并限制了1210以上尺寸、200V以上耐壓的陶瓷電容器的容值范圍)。
如圖3所示,斷裂通常沿著(zhù)一層或兩層介質(zhì)層貫穿整個(gè)電容的中部。大多數的解決方案是將多個(gè)電容器通過(guò)添加引腳進(jìn)行疊加,從而在給定尺寸下提高容值,但這需要消耗大量人力,花費較多成本,并會(huì )產(chǎn)生可靠性問(wèn)題。另外的解決方案使用特殊電介質(zhì)配方,但同時(shí)以犧牲介電常數作為代價(jià),并影響最終可獲得的容值大小。

圖3 壓電效應應力斷裂失效

圖4 X7R多層陶瓷電容在直流偏壓下的形變

解決方案
StackiCapTM是一種應對壓電失效限制的獨石電容解決方案。其應用的專(zhuān)利技術(shù)GB Pat./EP2013/061918創(chuàng )新性地在電容器內部加入了一層壓力緩沖層,使得該電容器既可展現出多個(gè)疊加電容的性能,同時(shí)在制造和加工流程上又具備單個(gè)電容器的優(yōu)點(diǎn)。

圖5 StackiCap
壓力緩沖層使用現成的材料系統組合,并經(jīng)過(guò)標準的制造流程。壓力緩沖層加在機械應力最大的一個(gè)或多個(gè)部位,從而緩解由于壓電形變而帶來(lái)的機械應力。依據目前為止的實(shí)驗,壓力緩沖層可以將多層電容器在內部分成2段、3段或4段,從而大幅緩解內部形變帶來(lái)的機械應力,同時(shí)通過(guò)FlexiCap柔性端頭技術(shù)釋放端頭上的機械應力,這樣我們就不需要將多個(gè)電容器進(jìn)行疊加了,我們也就不需要再給電容器組裝引腳,從而方便標準化的卷帶包裝以及自動(dòng)化貼裝。

“海綿”狀壓力緩沖層的截面(SEM顯微圖)

小型化
在大幅提高容值的同時(shí),StackiCapTM可實(shí)現元件尺寸的顯著(zhù)縮小。以下圖片直觀(guān)地展現了StackiCapTM的優(yōu)越性。

圖7顯示了已經(jīng)研發(fā)的StackiCapTM的各規格產(chǎn)品尺寸:1812,2220,2225和3640.圖8顯示了最多5顆電容疊加的引腳電容組件,單個(gè)電容尺寸為2225,3640,5550和8060.圖9和圖10顯示了單個(gè)StackiCapTM電容器所能取代的電容組件。一個(gè)極端的例子是8060,1kV,470nF的電容如今可被單顆2220,1kV,470nF的StackiCapTM替代;3640,1kV,180nF的電容如今可被單顆1812,1kV,180nF的StackiCapTM替代,體積分別縮小到原來(lái)的1/10和1/7.

圖7 尺寸從1812到3640的StackiCap

圖8 五顆電容堆疊的電容組件最大尺寸8060

圖9 一個(gè)2220 500v StackiCap 和三個(gè)2225 500v 堆疊電容對比

圖10

可靠性測試認證
StackiCap已通過(guò)如下可靠性測試:
(1)壽命測試。StackiCap系列電容在125℃,1倍或1.5倍的額定電壓下持續工作1000小時(shí)。
(2)85/85測試。StackiCap系列電容在85℃/85%RH條件下持續工作168小時(shí)。
(3)彎板測試。StackiCap系列電容被安裝在Syfer/Knowles的測試用PCB上進(jìn)行彎板測試,以評估元件的機械性能
 
 
 
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