| 電解電容會(huì )隨時(shí)間而泄漏。圖1中的電路可以用來(lái)測試電容，決定它們是否值得使用。通過(guò)CREF/RREF比值可以設定對泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測試，從1nF的陶瓷電容，到1000μF的電解電容。電路中，CREF的值接近于待測電容值CX。另外也可以用旋轉切換的方法選擇RREF，使之大于或小于22 MΩ。
當按鍵開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，電容CREF與CX通過(guò)各自相應的PNP晶體管充電。當開(kāi)關(guān)打開(kāi)時(shí)，這些電容開(kāi)始放電。CREF（假設處于良好狀況）有額外的放電外接電阻。而待測電容CX則通過(guò)自己的內阻放電。如果CX的泄漏大于CREF通過(guò)RREF的泄漏，則CX電壓下降得更快。于是，運放非反相輸入端的電壓會(huì )低于反相輸入端，使運放輸出為低，使紅色LED發(fā)光。這只LED用于表示被測電容有泄漏。對電路的測試表明，甚至1nF的陶瓷電容都能檢測。檢查測試電容的額定值，確保其高于將充電的電壓值，此時(shí)VSUPPLY 為-1.8V。
LF357的最低供電電壓為10V，但測試只需要6V，因此測試電容允許有一個(gè)低的上限電壓。要確認電容有FET或MOSFET的輸入級。 |
