設為主頁(yè)  加入收藏
 
·I2S數字功放IC/內置DSP音頻算法功放芯片  ·馬達驅動(dòng)IC  ·2.1聲道單芯片D類(lèi)功放IC  ·內置DC/DC升壓模塊的D類(lèi)功放IC  ·鋰電充電管理IC/快充IC  ·無(wú)線(xiàn)遙控方案  ·直流無(wú)刷電機驅動(dòng)芯片
當前位置:首頁(yè)->方案設計
確保通過(guò)USB 3.0認證的一些測試技巧和技術(shù)
文章來(lái)源:作者:Chris Loberg 更新時(shí)間:2011/5/30 11:26:00
在線(xiàn)咨詢(xún):
給我發(fā)消息
張代明 3003290139
給我發(fā)消息
小鄢 2850985542
給我發(fā)消息
李湘寧 2850985550
13713728695
 

雖然已經(jīng)有早期的USB3.0產(chǎn)品上市,但向超速(SuperSpeed)USB的大規模轉換還沒(méi)有開(kāi)始。部分問(wèn)題是USB 2.0已經(jīng)十分普及,生產(chǎn)成本非常低。高帶寬設備(如視頻攝像機和存儲設備)成為了SuperSpeed USB的第一批應用對象。然而,至少目前為止,成本因素將USB 3.0實(shí)現仍限制用于較高端的產(chǎn)品。

除了廣泛部署任何 新的行業(yè)標準所面臨的固有挑戰外,USB 3.0不僅僅是USB 2.0的常規升級,因為USB 3.0可以提供10倍的性能提升。雖然性能提高了,但消費者對低成本互連的期望一直沒(méi)有改變。這就給工程師帶來(lái)了巨大的壓力,他們只能使用速度低得多的通道,同時(shí)仍要在各種條件下確?煽啃、互操作性和高性能。確保物理層(PHY)一致性的測試和認證從未有現在這么關(guān)鍵或重要。

USB 3.0共享許多其它高速串行技術(shù)(如PCI Express和串行ATA)的特性:8b/10b編碼、顯著(zhù)的通道衰減以及擴展頻譜時(shí)鐘。本文將討論一致性測試方法,以及如何對發(fā)送端、接收端、電纜及互連實(shí)施最精確、可重復的測量。掌握這些技巧后,到SuperSpeed平臺集成實(shí)驗室(PIL)的旅程也許會(huì )更精彩。

高速Vs.超速 

USB 3.0可以滿(mǎn)足帶寬日益增加的需求,能夠支持應用提供更加實(shí)時(shí)的體驗。目前在用的USB設備數量估計超過(guò)10億,因此USB 3.0需要具有后向兼容功能,以支持傳統的USB 2.0設備。當然,USB 2.0和3.0之間還有多個(gè)重要的PHY區別(表1)。

《電子系統設計》

為了應對與更高速度接口有關(guān)的新挑戰,SuperSpeed USB一致性測試已經(jīng)作出了很大的修改。USB 2.0接收端的驗證包括接收端靈敏度測試。USB 2.0設備必須響應150mV或150mV以上的測試包,同時(shí)忽略(抑制)低于100mV的信號。 

另一方面,SuperSpeed USB接收端必須在有許多信號損傷的條件下還能正常工作,因此測試要求比USB 2.0更加嚴格。設計師還必須考慮傳輸線(xiàn)效應,并且使用包括在發(fā)送端進(jìn)行去加重、在接收端進(jìn)行連續時(shí)間線(xiàn)性均衡(CTLE)在內的均衡技術(shù)。如今還要求在接收側進(jìn)行抖動(dòng)容限測試,但使用擴頻時(shí)鐘(SSC)和異步參考時(shí)鐘可能導致互操作性問(wèn)題。

評估USB 3.0串行數據鏈路的另外一個(gè)重要部分是測量波形和互連通道行為之間的復雜交互。以下假設已經(jīng)不再成立:因為發(fā)送端輸出信號符合眼圖模板,所以在所有通道達到給定損耗條件下設計都能正常工作。為了理解在給定最差通道條件下發(fā)送端的余量,除了一致性要求外,你還需要建模通道和電纜的組合,并使用通道建模軟件分析通道效應(圖1)。

 

《電子系統設計》

 發(fā)送端的一致性測試 

發(fā)送端測試需要使用各種測試圖案(表2)。每種圖案的選擇依據是與評估圖案的測試有關(guān)的特征。CP0是一個(gè)D0.0擾碼序列,用于測量確定性抖動(dòng)(Dj),比如數據關(guān)聯(lián)抖動(dòng)(DDJ)。而CP1是一種無(wú)擾碼的D10.2全速時(shí)鐘圖案,不產(chǎn)生DDJ,因此更加適合用于評估隨機抖動(dòng)(RJ)。

《電子系統設計》

抖動(dòng)和眼圖高度是在應用均衡器函數和合適的時(shí)鐘恢復設置(二階鎖相環(huán)或PLL,閉環(huán)帶寬是10MHz,阻尼系數為0.707)之后用100萬(wàn)個(gè)連續單位間隔測量的。抖動(dòng)結果的計算方法是以1 x 10-12的誤碼率(BER)從測量數據總量中提取抖動(dòng)性能。例如,利用抖動(dòng)外推法,目標RJ等于測量得到的RJ(rms)乘以14.069。

圖2顯示了標準化的發(fā)送端一致性測試裝置,其中包括參考測試通道和電纜。測試點(diǎn)2(TP2)最靠近被測設備(DUT),而測試點(diǎn)1(TP1)是遠端測量點(diǎn)。所有發(fā)送端的常規化測量都是在TP點(diǎn)的信號上進(jìn)行的。

《電子系統設計》

 

在TP1點(diǎn)采集到信號后,可以使用一款稱(chēng)為SigTest的軟件工具進(jìn)行數據處理,類(lèi)似于正式的PCI Express一致性測試。對于要求預先一致性測試、表征或調試的應用,還可以用其它工具深入觀(guān)察不同條件或參數下的設計行為。帶USB 3.0特定軟件的高速示波器可以提供自動(dòng)的標準化和信息化PHY發(fā)送端測試。這些工具可以確保測試設備得到了正確配置,從而有效節省時(shí)間。

在測試完成后,一份詳細的通過(guò)/失敗測試報告將突出顯示可能存在設計問(wèn)題的地方。如果在不同測試位置(例如公司實(shí)驗室,測試室)之間出現矛盾,應該使用前次測試運行時(shí)保存的數據再次執行測試。

在要求進(jìn)一步分析的場(chǎng)合,可以用抖動(dòng)分析和眼圖分析軟件進(jìn)行查錯和設計表征。例如,一次可以顯示多個(gè)眼圖,允許工程師分析不同的時(shí)鐘恢復技術(shù)或分析軟件通道模型的效果。另外,可以使用不同的濾波器分析SSC效應,最終解決系統互操作性問(wèn)題。

均衡考慮事項

由于有較大的通道衰減,SuperSpeed USB要求采用某種形式的補償機制來(lái)打開(kāi)接收端的眼圖。發(fā)送端一般采用去加重形式的均衡技術(shù)。歸一化的去加重比率在線(xiàn)性刻度下規定為3.5dB或1.5x。舉例來(lái)說(shuō),當跳變沿比特電平為150mVp-p時(shí),非跳變沿比特電平將為100mVp-p。

CTLE一致性均衡實(shí)現包括裸片上的有源接收端均衡或無(wú)源高頻濾波器(比如電纜均衡器中使用的濾波器)。這種模型非常適合用于一致性測試,因為在描述轉移函數時(shí)非常簡(jiǎn)單。CTLE實(shí)現在頻域有一組極點(diǎn)和零點(diǎn),因此在目標頻率處會(huì )出現峰值。

CTLE實(shí)現對設計而言更加簡(jiǎn)單,并且比替代性技術(shù)消耗更低的功率。然而,在某些情況下,由于適配性、精度和噪聲放大等方面的限制,它們可能還不夠。其它技術(shù)包括前饋均衡(FFE)和判定反饋均衡(DFE),這些技術(shù)使用經(jīng)比例因子加權的數據樣本來(lái)補償通道損耗。

CTLE和FFE都是線(xiàn)性均衡器,因此都會(huì )由于高頻噪聲的提升而出現信噪比的劣化。然而,DFE在反饋環(huán)路中使用非線(xiàn)性元件,因而能最大限度地減少噪聲放大,補償碼間干擾(ISI)。圖3所示例子顯示了經(jīng)過(guò)顯著(zhù)通道衰減后的5Gbit/s信號以及使用去加重、CTLE和DFE技術(shù)均衡過(guò)的信號。

《電子系統設計》

USB 3.0接收端測試

USB 3.0接收端測試類(lèi)似于其它高速串行總線(xiàn)接收端的一致性測試,一般分為三個(gè)階段,開(kāi)始是受壓眼圖校準,然后是抖動(dòng)容限測試,最后是分析。下面讓我們看看這個(gè)過(guò)程的流程圖(圖4)。

 

 

《電子系統設計》

受壓眼圖校準使用最糟糕信號,這個(gè)信號通常在垂直方向(通過(guò)增加的抖動(dòng))和水平方向(通過(guò)將幅度設置為接收端在部署時(shí)能看到的最低值)都有損傷。當任何測試夾具、電纜或儀器發(fā)生改變時(shí)都必須執行受壓眼圖校準。 

抖動(dòng)容限測試將校準后的受壓眼圖用作輸入,然后施加更高頻率帶來(lái)的附加正弦抖動(dòng)(SJ)。這種SJ將作用于接收端內的時(shí)鐘恢復電路,因此不僅使用最差信號條件測試了接收端,而且時(shí)鐘恢復也得到了明確的測試。最后,通過(guò)分析評估測試完成后是否需要執行額外的設計任務(wù)才能達到一致性。

受壓眼圖校準過(guò)程首先要用一致性?shī)A具、電纜和通道設置好測試設備(圖5)。下一步是反復測量和調整各種類(lèi)型的外加應力,如抖動(dòng)。校準步驟執行時(shí)不需要DUT,但需要一致性測試夾具、通道以及測試設備產(chǎn)生的特定數據圖案。測試儀器應能執行兩種功能——能夠增加各種應力的圖案發(fā)生功能,以及抖動(dòng)和眼圖測量等信號分析功能。

 

《電子系統設計》

 

校準受壓眼圖時(shí)必須完成三種損傷校準:RJ、SJ和眼圖高度。每種校準都要求對圖案發(fā)生器和分析儀進(jìn)行特定的設置。對每組電纜、適配器和儀器也必須做一次受壓眼圖校準。

由于使用不同的適配器和參考通道組,主機和設備將經(jīng)過(guò)不同的受壓眼圖校準過(guò)程。一旦完成后,校準眼圖的設置可以重復使用,只有當設備設置發(fā)生改變時(shí)才必須做再次校準。

額外的圖案發(fā)生器要求

前面已經(jīng)介紹了要求校準的全部事項,下面讓我們再看看每步校準對圖案發(fā)生器的附加要求,包括使用的數據圖案、去加重程度、SSC是否應激活等。在受壓眼圖校準方案中,列出了兩種圖案,即CP0和CP1。表3列出了所有的USB 3.0一致性圖案供參考。

《電子系統設計》

CP0是一種8b/10b編碼、PRBS-16數據圖案(將D0.0字符送到USB 3.0發(fā)送端中進(jìn)行擾碼和編碼的結果)。經(jīng)過(guò)8b/10b編碼后,最長(cháng)的連1或連0長(cháng)度從PRBS-16圖案中的16比特減少到了5個(gè)比特。CP3是類(lèi)似于8b/10b編碼過(guò)的PRBS-16的圖案,其中包含最短(單個(gè)比特)和最長(cháng)的相同比特序列. 

CP1是用于RJ校準的時(shí)鐘圖案。許多儀器在RJ測量時(shí)采用dual-Dirac隨機與確定性抖動(dòng)分離方法。使用時(shí)鐘圖案可以避免dual-Dirac方法的一些缺陷,例如將DDJ報告為RJ,特別是針對長(cháng)圖案。通過(guò)使用時(shí)鐘圖案,作為ISI結果的DDJ將從抖動(dòng)測量中消除,從而形成更精確的RJ測量結果。

在圖案發(fā)生器和分析儀之間的有損通道(即USB 3.0參考通道和電纜)將導致垂直和水平方向表現為眼圖關(guān)閉的頻率相關(guān)損耗(圖6)。為了解決這種損耗問(wèn)題,需要使用發(fā)送端去加重技術(shù)提升信號中的高頻分量,從而使BER為10-12或更高的工作鏈路有足夠好的接收眼圖。

《電子系統設計》

 

從這些眼圖可以看出,沒(méi)有去加重時(shí)所有幅度名義上都是相同的。采用去加重后,跳變沿比特的幅度要高于非跳變沿比特的幅度,從而有效提升了信號的高頻分量。

在通過(guò)有損通道和電纜后,沒(méi)有經(jīng)過(guò)去加重處理的信號將受到碼間干擾(ISI)的影響,眼圖開(kāi)度要比經(jīng)過(guò)了去加重的信號小。同時(shí),采用去加重的信號是全開(kāi)的。從這里可以看出,去加重程度會(huì )影響ISI和DDJ的程度,進(jìn)而影響接收端的眼圖開(kāi)度。 

在同步數字系統(包括USB 3.0)中經(jīng)常使用SSC來(lái)減小電磁干擾(EMI)。如果不使用SSC,數字流頻譜中的載頻(即5Gbps)及其諧波處會(huì )出現大幅度的尖峰,并且有可能超過(guò)調整極限(圖7)。

 

《電子系統設計》

 

為了防止出現這個(gè)問(wèn)題,可以用SSC擴展頻譜能量。在這個(gè)案例中載頻被一個(gè)三角波所調制。用于接收端測試的頻率“擴展”量是5000ppm或25MHz,頻率調制周期為33kHz或每隔30μs,即三角波的一個(gè)周期。經(jīng)過(guò)SSC后,頻譜中的能量得到了擴展,不會(huì )再有單個(gè)頻率破壞規范極限。

如前所述,USB 3.0中的接收側均衡可以改善被碼間干擾損傷的信號,這種碼間干擾是由于參考通道和電纜中的頻率相關(guān)損耗引起的。這種概念等同于去加重——通過(guò)信號處理方法提升信號中的高頻分量。 

雖然設備或主機中的接收端均衡電路與具體實(shí)現有關(guān),但USB 3.0標準為一致性測試規定了CTLE(圖8)。這種CTLE必須在進(jìn)行一致性測試測量(都是針對發(fā)送端測試,在本例中是接收端受壓眼圖校準)之前,由誤碼率測試儀(BERT)或示波器等參考接收端實(shí)現,并且通常采用軟件模擬的方式。

 

《電子系統設計》

 

使用CTLE模擬進(jìn)行抖動(dòng)測量主要影響由信號處理方法引起的抖動(dòng),即ISI。CTLE模擬不影響與數據圖案(如RJ和SJ)不相關(guān)的抖動(dòng)分量,雖然根據一致性測試規范(CTS)這兩種測量都要求使用CTLE。另一方面,眼圖高度會(huì )直接受到影響,因為ISI影響測量。 

抖動(dòng)測量時(shí)必須使用具有一致性抖動(dòng)轉移函數(JTF)的時(shí)鐘恢復“黃金PLL”,如圖9中的藍線(xiàn)所示。JTF表明了有多少抖動(dòng)從輸入信號轉移到下游分析儀。在本例中,-3dB截止頻率是4.9MHz。

 

《電子系統設計》

 

在更低的SJ頻率(沿著(zhù)JTF的傾斜部分,此處的PLL環(huán)路響應是平坦的),恢復時(shí)鐘跟蹤數據信號上的抖動(dòng)。這樣,相對于時(shí)鐘的數據抖動(dòng)將按照JFT得到衰減。在較高的SJ頻率點(diǎn),JTF變平,PLL響應向下傾斜,信號中的SJ部分被轉移到下游分析儀。除了受壓眼圖校準期間的SJ外,所有測量都規定要使用一致性JTF。

一旦受壓眼圖完成校準,接收端測試就可以開(kāi)始了。USB 3.0與以前的USB 2.0不同,要求進(jìn)行BER測試。采用抖動(dòng)容限測試形式的BER測試僅是接收端測試要求的測試項目。抖動(dòng)容限測試使用最差輸入信號條件試驗接收端(受壓眼圖的校準見(jiàn)前面部分)。在受壓眼圖頂部,圍繞JTF的-3dB截止頻率且覆蓋一定頻率范圍的一系列SJ頻率和幅度被注入測試信號,同時(shí)由誤碼檢測器監視接收端的錯誤或比特誤碼,并計算BER。

本文小結 

隨著(zhù)USB 3.0開(kāi)始走向主流,需要對發(fā)送端和接收端進(jìn)行成功的一致性和認證測試,這是將新產(chǎn)品推向市場(chǎng)的關(guān)鍵。這些產(chǎn)品不僅要求能與其它USB 3.0設備一起工作,而且要滿(mǎn)足消費者對各種條件下的性能和可靠性的期望值。

性能的急劇提高帶來(lái)了許多新的測試要求,也使得設計和認證比前代標準更具挑戰性。幸運的是,有一整套測試工具和資源可以用來(lái)協(xié)助SuperSpeed USB商標認證。

 
 
 
    相關(guān)產(chǎn)品  
CS5086(帶平衡功能、5V USB輸入、8.4V/1.5A兩節鋰電池充電管理IC)
CS5082(帶NTC功能、5V USB輸入、雙節鋰電池串聯(lián)應用、升壓充電管理IC)
CS5080(5V USB輸入、雙節鋰電池串聯(lián)應用、升壓充電管理IC)
CS5095(5V USB輸入、三節鋰電升壓型充電管理IC)
VAS5280(5V USB輸入、同步升壓兩節鋰電充電管理IC)
LGS55184(5V USB輸入升壓型4節鋰電充電管理IC)
CS5711(65mΩ,3.5A 5V USB限流開(kāi)關(guān)IC)
NS2582(5V USB輸入雙節鋰電池同步升壓型充電管理IC)
BQ24158/NS2158(I2C控制單節4A大電流鋰電充電管理IC,支持高輸入電壓和可調節電壓2A USB On-the-Go升壓模式)
CS5090(5V USB輸入、兩節鋰電升壓型充電管理IC)
 
 
·藍牙音箱的音頻功放/升壓/充電管
·單節鋰電內置升壓音頻功放IC選型
·HT7179 12V升24V內置
·5V USB輸入、三節鋰電升壓型
·網(wǎng)絡(luò )主播聲卡專(zhuān)用耳機放大IC-H
 
M12269 河北發(fā)電機組 HT366 ACM8629 HT338 

業(yè)務(wù)洽談:手機:13713728695(微信同號)   QQ:3003207580  EMAIL:panbo@szczkjgs.com   聯(lián)系人:潘波

地址:深圳市寶安西鄉航城大道航城創(chuàng )新創(chuàng )業(yè)園A5棟307/309

版權所有:深圳市永阜康科技有限公司  備案號:粵ICP備17113496號

在线亚洲人成电影_中文有码国产精品欧美激情_免费大片一级a一级久久三_av天堂东京热无码专区