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基于電荷泵改進(jìn)型CMOS模擬開(kāi)關(guān)電路
文章來(lái)源: 更新時(shí)間:2015/5/29 9:24:00
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當前VLSI技術(shù)不斷向深亞微米及納米級發(fā)展,模擬開(kāi)關(guān)是模擬電路中的一個(gè)十分重要的原件,由于其較低的導通電阻,極佳的開(kāi)關(guān)特性以及微小封裝的特性,受到人們的廣泛關(guān)注。模擬開(kāi)關(guān)導通電阻的大小直接影響開(kāi)關(guān)的性能,低導通電阻不僅可以降低信號損耗而且可以提高開(kāi)關(guān)速度。要減小開(kāi)關(guān)導通電阻,可以通過(guò)采用大寬長(cháng)比的器件和提高柵源電壓的方法,可是調節器件的物理尺寸不可避免地會(huì )帶來(lái)一些不必要的寄生效應,比如增大器件的寬度會(huì )增加器件面積進(jìn)而增加柵電容,脈沖控制信號會(huì )通過(guò)電容耦合到模擬開(kāi)關(guān)的輸入和輸出,在每個(gè)開(kāi)關(guān)周期其充放電過(guò)程中會(huì )消耗更多的電流,時(shí)間常數t=RC,充放電時(shí)間取決于負載電阻和電容,使得開(kāi)關(guān)的速度變慢,同時(shí)增大寬長(cháng)比也增加了器件的成本。當前減小導通電阻的普遍辦法是提高開(kāi)關(guān)管的柵電壓。

1傳統模擬開(kāi)關(guān)原理及柵增壓原理



圖1傳統模擬開(kāi)關(guān)


在MOS技術(shù)中,傳統的開(kāi)關(guān)實(shí)現就是一個(gè)PMOS管和一個(gè)NMOS管并聯(lián),如圖1所示,A和B兩端分別為傳送信號的輸入、輸出端,兩個(gè)管子的柵極分別由極性相反的信號來(lái)控制。由于MOS管的源極和漏極可以互換,因此這個(gè)電路的輸入、輸出端也可以互換,它可以控制信息雙向流通,就像一個(gè)雙向開(kāi)關(guān)。工作過(guò)程:當控制信號S=1時(shí),PMOS管和NMOS管均導通,傳輸門(mén)接通,信號暢行無(wú)阻;當控制信號S=0時(shí),PMOS管和NMOS管均截止,傳輸門(mén)關(guān)閉,開(kāi)關(guān)斷開(kāi)。當一管的導通電阻減小,則另一管的導通電阻就增加。由于兩管是并聯(lián)運行,可近似地認為開(kāi)關(guān)的導通電阻近似為一常數。這是CMOS傳輸門(mén)的優(yōu)點(diǎn)。

1.1模擬開(kāi)關(guān)分析

CMOS開(kāi)關(guān)的導通電阻為:



導通電阻將不隨輸入信號改變而改變,可等效為一個(gè)恒定阻值的電阻,如式(3),不會(huì )引起模擬信號的失真,由于導通電阻是由兩個(gè)電阻并聯(lián),所以阻值較單管開(kāi)關(guān)小得多,使得開(kāi)關(guān)速率又得到提高。從式(3)中可以知道MOS開(kāi)關(guān)為了能提高速度和精度,需要抬高NMOS管的柵電壓。增加柵電壓最直接的辦法就是提高電路的電源低壓,但是從低電壓系統角度來(lái)說(shuō)這增加了成本,因此需要加一個(gè)電源電路,最好的辦法是芯片內部產(chǎn)生一個(gè)電壓來(lái)增加柵電壓。

1.2柵增壓原理

柵增壓原理是依靠電荷泵的工作原理:先貯存能量,然后以受控方式釋放能量,以獲得所需的輸出電壓。本文中所用的電容式電荷泵采用電容器來(lái)貯存能量,通過(guò)電容對電荷的積累,電容A端接時(shí)鐘信號Clk,當A點(diǎn)電位為0時(shí),B點(diǎn)電位為Vdd;當A點(diǎn)電位為Vdd時(shí),由于電容兩端的電壓不會(huì )突變,理想情況下,此時(shí)B點(diǎn)電位被抬升為2Vdd,因為電荷泵的有效開(kāi)環(huán)輸出電阻存在,使得實(shí)際情況B點(diǎn)電位低于2Vdd.



圖2柵增壓基本電路

2改進(jìn)型模擬開(kāi)關(guān)電路設計

2.1電路描述和分析

圖4為本文設計的柵增壓電路,M3和M4組成了一對傳輸門(mén),可以保證輸入信號在高低電壓無(wú)損失地傳輸到傳輸門(mén)的另一端。M1的柵極接反相器的輸出端,漏源兩端分別接電容正極板和電源電壓,M1的作用是當開(kāi)關(guān)連通且時(shí)鐘信號為高電平時(shí),保證電容電壓抬升后不會(huì )迅速放電使電容正極板電位為0.M2的柵極接時(shí)鐘信號CLK,漏源兩端分別接電容正極板和電源電壓,它的作用是當開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí),M2導通時(shí)使電容正極板電位保持在電源電壓。下面分析該電路的工作情況:

當開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí),S為低電平,M1導通,保證電容正極板上的電壓最低為VDD,此時(shí)M3和M4都不導通,信號不能達到輸出端。當開(kāi)關(guān)導通時(shí),S為高電平,M1截止,時(shí)鐘為低電平時(shí),M2和M5導通,M1和M6關(guān)閉,電容充電至P-Vds;CLK為高時(shí),由于電容兩邊電壓不會(huì )突變,電容正極板上的電壓會(huì )被抬升至原來(lái)的兩倍。

從上面分析可知,所有跟開(kāi)關(guān)柵端電壓連通的電壓都是和輸入信號無(wú)關(guān)的,因此開(kāi)關(guān)導通電阻與輸入信號無(wú)關(guān),可以大大抑制信號有關(guān)的電壓損失,保證了信號的線(xiàn)性度和器件的可靠性。



圖3柵增壓仿真結果

圖4改進(jìn)型柵增壓電路


2.2性能仿真及結果分析

基于NEC0.35umCMOS工藝的模型參數,采用Spectre模擬軟件,對圖3進(jìn)行模擬仿真。電源電壓為5V,輸入信號singlin為500KHZ,信號幅度5V,電荷泵時(shí)鐘為100MHZ,電容為1.8pf,仿真得到了開(kāi)關(guān)導通電阻隨Vg電壓的變化(圖5)、電荷泵抬升后的電壓(圖6)和輸出信號結果(圖7),可見(jiàn),導通電阻在大于電源電壓時(shí)急劇降低,電容正極板上的電壓可以抬升至9V,輸出電壓波形比較理圖想,損耗很小,幾乎沒(méi)有。



圖5開(kāi)關(guān)導通電阻的DC仿真結果

圖6柵電壓tran仿真結果

圖7輸出電壓仿真結果

3結語(yǔ)

本文分析了CMOS模擬開(kāi)關(guān)對傳輸信號的影響。利用電荷泵技術(shù),設計了一種5V電源電壓下的模擬開(kāi)關(guān),該器件適用于0~5V的輸入信號,并能將0~5V的時(shí)鐘信號抬升到0~10V,從而具有更好的線(xiàn)性特性和更小的導通電阻,大大降低信號的失真。對開(kāi)關(guān)電路進(jìn)行了分析,采用Spectre軟件,基于NEC0.35um CMOS工藝條件進(jìn)行仿真,驗證了該結構的線(xiàn)性度和可靠性。

 
 
 
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