應用背景：
CS5095E芯片的BAT端口本身就可以抗住20V的高壓，具有較高的可靠性。當電池端進(jìn)行熱插拔操作，特別是接電機等感性負載時(shí)，BAT端口必須額外接一個(gè)至少100μF電容，空間允許的情況下，最好接470μF電容。

但在產(chǎn)品實(shí)際應用時(shí)，例如接某些電機工作時(shí)，或者電池有個(gè)很大的放電然后突然沒(méi)了，或者電池有個(gè)很大的放電然后突然沒(méi)了，就會(huì )產(chǎn)生一個(gè)很大的反彈電壓，這個(gè)反彈電壓如果超出芯片端口的耐壓值，就會(huì )損壞芯片。因此根據產(chǎn)品工作時(shí)BAT端口的實(shí)際電壓尖峰，可以進(jìn)一步提高BAT端口的可靠性。

提高BAT端口的可靠性：

串聯(lián)一個(gè)PMOS管（AO3407），外加3個(gè)電阻以及一個(gè)NPN管控制柵極。

注意PMOS管的源極，要接電池的正極。

除此之外，還有另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)：當VIN不上電，電池幾乎沒(méi)有泄漏電流流入芯片。

芯片VIN不上電，有負載儀的一個(gè)12V的輸出線(xiàn)，去碰PMOS管的源級。

沒(méi)加PMOS管，在芯片BAT端口出現一個(gè)很高的尖峰電壓。

加上PMOS管，在芯片BAT端口檢測不到電壓。